PAMS (Plasma Arc Monitoring System)
運用超高頻率達250KHz的先進光學感應技術,能偵測出電漿製程(CVD, PVD, Etch)時微小電漿弧(Micro Arc),以避免微塵或晶圓線路的破壞提升製程品質與良率。
■ 高頻率光學感應器(OPM/OES/SPOES) ■ RF感應器(VI Probe/RF Sensors)
■ 實時監控 ■ 先進的演算法 ■ 多種參數設定與FDC/生產工具方便分析